SZT-1型數字式四探針測試儀是一款專為材料導電性能分析設計的精密測量設備，適用于半導體材料、金屬薄膜、陶瓷基板、導電涂層等多種材料的電阻率與方塊電阻檢測。該產品基于經典四探針測量原理設計，通過優化探針布局和信號采集模塊，顯著提升了測量結果的穩定性和重復性，為實驗室研究、工業質檢等場景提供可靠數據支持。
核心功能與技術特點
設備采用高靈敏度數字信號處理技術，能夠自動識別材料電阻范圍并匹配最佳測試參數，量程覆蓋1mΩ·cm至100kΩ·cm，滿足從高導電金屬到中高阻半導體材料的寬域測量需求。探針系統選用耐磨碳化鎢材質，配合恒壓接觸設計，可在保證測量精度的同時減少對樣品的表面損傷。內置溫度補償算法可有效降低環境波動對測試結果的影響，確保數據準確性在±1%以內。
應用場景與適配性
SZT-1型測試儀支持片狀、塊狀、薄膜狀等多種形態樣品的直接測量，特別適用于光伏硅片、ITO玻璃、納米導電薄膜等新型材料的工藝優化與品控管理。其模塊化結構設計便于探針間距調節（支持0.5-5mm可選配置），配合可拆卸樣品臺，可快速適配不同尺寸的待測物。設備配備4.3英寸彩色觸控屏，支持數據曲線實時顯示與歷史記錄查詢，測量結果可通過USB接口或無線傳輸至計算機進行深度分析。
操作體驗與可靠性
整機采用人機交互界面設計，內置智能引導式操作流程，大幅降低使用門檻。防護等級達IP42的金屬機身結構，配合多級電路保護系統，保障設備在復雜工業環境下的長期穩定運行。通過創新性的接觸電阻抑制技術，有效消除探針氧化、壓力波動等因素引起的測量偏差，為科研創新與生產質控提供精準高效的檢測方案。
