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硅材料復合測試儀, SZT-5  
產品名稱: 硅材料復合測試儀, SZT-5
產品型號: SZT-5
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硅材料復合測試儀, SZT-5

 

硅材料復合測試儀SZT-5是一款專為硅基材料性能分析設計的智能化檢測設備,適用于半導體、光伏、電子元件制造等領域的材料研發與品質管控環節。該設備通過集成多維度測試模塊,可對硅材料的力學特性、熱學響應及電學參數進行同步或獨立檢測,為材料性能優化提供全面數據支持。

在技術設計上,SZT-5采用模塊化架構,支持薄膜、塊體、粉末等不同形態樣品的兼容測試。設備搭載高靈敏度傳感器陣列,能夠實現0.1μN級別的微力檢測和0.01℃級別的溫度分辨率,滿足納米級硅材料薄膜的精密測試需求。熱學分析模塊可模擬-50℃至600℃環境下的材料行為變化,支持連續梯度測試和定點循環測試兩種模式。電學測試單元配備四探針接觸系統,在避免接觸電阻干擾的前提下,準確獲取材料的電阻率、載流子遷移率等關鍵參數。

設備配置智能化操作界面,通過7英寸觸控屏實現參數設置、過程監控和數據預覽功能。內置數據管理系統可自動生成測試報告,支持多維度數據對比分析和趨勢圖譜繪制。針對工業場景需求,設備特別設計了防震底座和電磁屏蔽結構,確保復雜環境下的測試穩定性。

SZT-5適用于單晶硅、多晶硅、非晶硅等多種硅基材料的綜合性能評估,在太陽能電池片品質檢測、半導體晶圓工藝優化、新型硅基復合材料研發等領域具有廣泛應用價值。設備采用可擴展設計,用戶可根據實際需求選配紅外光譜聯用模塊或真空測試腔體,實現更復雜的復合測試場景。售后服務團隊提供設備調試、操作培訓和定期維護支持,保障設備的長期穩定運行。

簡單介紹
SZT-5 硅材料復合測試儀 SZT-4硅材料復合測試儀,是由二種硅材料測試儀器組合而成的 1,二量程的電阻測量儀器,配以手持式四針測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率


 

SZT-5 硅材料復合測試儀

的詳細介紹
SZT-5 硅材料復合測試儀

,概述;

SZT-4硅材料復合測試儀,是由二種硅材料測試儀器組合而成的

1,二量程的電阻測量儀器,配以手持式四針測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率

0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數,對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。

SZT4數字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。

2,整流法硅材料P-N極性判別儀,配有三針手持式探頭,能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別

      本儀器工作環境條件為:

        溫  度:18℃―25

            相對濕度:50%70%

      工作室內應無強電場干擾,不與高頻設備共用電源。

二,技術參數

1,測量范圍

1)電阻率測量:

              0.01-200Ω-cm

 

 

 

 

 

2,數字電壓表 

      (1)    :       200mV單一量程

      (2)    :      讀數 ±0.2%±3

(3)輸入電阻 :      >10MΩ

3,

      (1)電流輸出               0~10mA連續可調

      (2)                 1mA, 10mA

      (3)                  ±0.2%±3,

4,手持式四探針測試頭

(a)      ::      1mm

  (b)探針機械游移率:      ±1.0%

  (c)      :      碳化鎢,φ0.

(d)壓力:  最大 2Kg

2)導電類型判別:

可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定,同時可以聲,光報警方式表示被測材料屬于重摻

 

方塊電阻        0.01-200Ω-

            0.01-200.0Ω

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