DMR-1C方阻儀是一款專為薄膜材料導電性能分析設計的精密測量設備，適用于塑料薄膜、金屬鍍層、半導體材料、透明導電膜（如ITO）等各類柔性或剛性基材的方塊電阻檢測。該儀器通過非破壞性測量方式，幫助用戶快速獲取材料的表面電阻率數據，為生產工藝優化和質量控制提供可靠依據。
【核心功能與技術特點】
- 高精度測量：采用四探針接觸式測量原理，結合智能信號處理技術，可精準測量0.01Ω/□至100kΩ/□范圍的方塊電阻值，最小分辨率達0.001Ω/□，滿足納米級鍍層和超薄導電膜的測量需求。
- 寬量程覆蓋：內置多檔量程自動切換功能，支持從普通金屬鍍膜到高阻值功能涂層的多樣化檢測場景。
- 操作便捷性：配備7英寸高清觸控屏，支持一鍵式測量操作，直觀顯示電阻值、溫度補償數據及測量曲線，界面支持中英文雙語切換。
- 快速響應設計：單次測量時間≤3秒，配合可調壓力探針臺，確保不同厚度材料的穩定接觸，重復性誤差≤±0.5%。
- 環境適應性：搭載溫度補償算法，有效降低環境因素對測量結果的影響，可在15℃-35℃、濕度＜80%的實驗環境下穩定工作。
【應用場景】
廣泛應用于柔性顯示面板導電層檢測、光伏背板金屬化膜層評估、包裝材料抗靜電涂層分析、功能性紡織品導電纖維測試等領域，特別適合實驗室研發、產線抽檢及來料檢驗等環節。
【產品優勢】
• 探針模塊化設計：提供點接觸/面接觸兩種探針選配，適應平面、曲面等不同樣品形態
• 數據管理功能：支持1000組數據存儲，可通過USB接口導出CSV格式測量報告，兼容實驗室信息管理系統
• 人機工程學設計：整機重量＜5kg，緊湊型機身搭配可調節支架，兼顧臺式和手持測量需求
該儀器采用工業級防護結構，關鍵部件具備抗電磁干擾能力，通過嚴格的老化測試確保長期測量穩定性，為新材料研發和產品品質管控提供專業檢測工具。
