牛津鍍層測厚儀X-Strata 920型是一款適用于工業檢測與質量控制的精密測量設備，專為金屬鍍層、涂層及表面處理工藝的厚度分析而設計。該設備采用先進的X射線熒光（XRF）技術，可在非破壞性條件下實現快速、準確的鍍層厚度測量，幫助用戶優化生產工藝并提升產品質量。
在技術性能方面，X-Strata 920型具備多元素同步分析能力，可支持從輕元素（如鎂、鋁）到重元素（如金、鉑）的鍍層檢測，測量范圍覆蓋0.01微米至50微米，滿足從微小電子元件到大型工業部件的多樣化需求。其創新的光路系統與高靈敏度探測器相結合，顯著提升了低厚度鍍層的測量穩定性，尤其在處理多層復合鍍層時，能夠清晰分辨各層材料的厚度與成分。
設備采用人性化操作設計，7英寸觸控屏與圖形化界面簡化了參數設置流程，用戶可通過預置檢測模板快速切換不同應用場景。測量結果可通過圖表形式直觀呈現，并支持數據導出功能，便于生產追溯與質量分析。針對復雜形狀的待測件，儀器配備可調節支架與定位激光，確保檢測位置精準定位，減少人為操作誤差。
X-Strata 920型在結構設計上兼顧便攜性與耐用性，緊湊型機身配合防震防塵工藝，適用于實驗室、車間或現場檢測環境。其模塊化組件設計降低了后期維護成本，而智能化溫控系統則保障了設備在連續工作狀態下的穩定性。該儀器廣泛應用于汽車制造、電子元器件、珠寶首飾、航空航天等領域，為表面處理行業提供可靠的厚度檢測解決方案。
牛津儀器通過持續的技術優化，致力于為用戶提供更高效的檢測體驗。X-Strata 920型在確保測量精度的同時，通過簡化操作流程與提升設備適應性，幫助生產企業實現質量管控與成本控制的平衡發展。
