電極膜厚及粗糙度測試服務是面向科研實驗領域推出的專業分析服務，旨在為材料研究、電子器件開發及表面工程等領域提供精準的表面特性數據支持。該服務基于高精度表面粗糙度測量儀及配套分析技術，可實現對電極、薄膜材料、涂層等樣品的膜層厚度及表面形貌特征的高效表征，助力用戶優化材料制備工藝、提升器件性能。
表面粗糙度測量儀采用非接觸式光學測量原理，結合三維形貌重建技術，可在納米至微米尺度范圍內實現表面粗糙度的精準量化。設備搭載高分辨率光學傳感器，能夠捕捉樣品表面微觀起伏，并通過專業算法計算Ra、Rq、Rz等關鍵粗糙度參數，同時支持三維形貌可視化分析。針對透明或半透明電極膜層，儀器配備多光譜干涉模塊，可在不損傷樣品的前提下，實現10 nm至500 μm范圍內膜厚的快速測定，尤其適用于柔性基底、異形結構等復雜樣品的測量需求。
本服務采用模塊化測試方案，可根據用戶需求定制測試參數與分析方法。測試流程包含樣品預處理指導、多區域數據采集、重復性驗證及數據報告生成等環節，確保結果的科學性和可追溯性。設備配備智能溫濕度補償系統，有效降低環境干擾，保障實驗數據穩定性。配套分析軟件支持原始數據導出，兼容主流科研數據處理平臺，便于用戶進行深度分析。
服務團隊由具有豐富表面分析經驗的技術人員組成，可為用戶提供技術咨詢、數據解讀及實驗方案優化支持。通過該服務，研究人員可系統掌握材料表面特性與性能的關聯規律，為新能源器件、傳感器、功能涂層等領域的技術攻關提供關鍵數據支撐。
