TOFD相控陣V-1（IIW1）與V-2 CBI CSIII試塊是專為無損檢測領域設計的高精度檢測輔助工具，適用于工業制造、能源設備、軌道交通等領域的超聲波檢測系統校準與性能驗證。該系列產品通過優化結構設計與材料選型，能夠有效支持TOFD（衍射時差法）及相控陣技術的檢測需求，為檢測結果的可靠性和一致性提供基礎保障。
V-1（IIW1）試塊采用特殊合金材料精密加工而成，表面經過高精度研磨處理，內部包含多種幾何特征反射體，可模擬不同深度、角度的缺陷形態。其設計充分考慮了檢測工藝的多樣性需求，能夠滿足常規焊縫、板材及管材的檢測參數調試需求，幫助操作人員快速完成設備靈敏度校準與檢測能力驗證。
V-2 CBI CSIII試塊在V-1基礎上進行了功能擴展，創新性地融合了多組曲面反射結構，特別適用于復雜幾何形狀工件的檢測場景。試塊通過階梯狀槽孔設計和多角度反射面布局，可輔助檢測系統完成聲束聚焦性能評估、分辨率測試及角度補償參數優化。其緊湊的模塊化設計便于現場攜帶，表面防腐蝕處理工藝延長了產品使用壽命，適用于實驗室與工業現場的多場景應用。
該系列試塊在制造過程中采用嚴格的質量控制流程，通過多道精密機加工工序確保尺寸精度達到微米級，同時運用特殊熱處理技術提升材料穩定性。產品可幫助用戶建立檢測基準，優化檢測方案，提升缺陷識別能力，為各類金屬構件的安全評估提供數據支持。配套提供的技術指導服務，可根據具體應用場景提供操作建議，幫助用戶充分發揮檢測設備性能。
