測厚探頭超聲波高頻復合單晶片測厚儀探頭延遲探頭
產品概述
測厚探頭超聲波高頻復合單晶片測厚儀探頭延遲探頭是一種專為高精度厚度測量設計的檢測設備組件。該探頭采用高頻復合單晶片技術，能夠實現對金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷等多種材料的厚度測量。其核心特點是結合了高頻超聲波技術與延遲塊設計，有效提升了薄材料測量的分辨率和準確性。探頭適用于不同工況下的厚度檢測需求，包括常規工業檢測和特殊環境應用。136
技術特點
該探頭采用高頻復合單晶片設計，頻率范圍通常在5MHz至7.5MHz之間，能夠實現0.7mm至350mm的測量范圍（具體視材料而定）。延遲塊設計有助于提高表面分辨率，特別適合超薄工件的測量，最小可測厚度可達0.08mm（塑料）和0.10mm（金屬）。探頭具有較好的穿透性能，能夠適應不同曲率半徑的工件表面測量需求。復合單晶片結構確保了超聲波信號的穩定發射和接收，提高了測量的一致性和可靠性。131216
應用領域
該探頭廣泛應用于石油化工、冶金制造、航空航天、造船等工業領域。在管道、壓力容器等設備的壁厚監測方面表現突出，能夠有效評估材料在使用過程中的腐蝕減薄情況。同時，探頭也適用于生產過程中的質量控制和成品檢驗，如機加工部件、渦輪葉片、汽缸孔等精密零件的厚度測量。針對特殊應用場景，如高溫環境或曲面工件，探頭也能提供相應的解決方案。4614
使用優勢
探頭設計考慮了實際操作的便利性，具有較好的兼容性，可適配多種國產和進口測厚儀主機。高頻復合單晶片技術使探頭在保持高靈敏度的同時，具備較寬的工作頻帶，能夠適應不同聲阻抗材料的測量需求。延遲塊設計有效減少了近場干擾，提高了薄材料測量的準確性。探頭結構堅固耐用，適合在工業環境中長期使用，維護簡便，只需定期清潔接觸面即可保持良好性能。361220
測量性能
在實際應用中，該探頭能夠提供穩定的測量結果，測量精度與被測材料性質及表面狀況相關。對于鋼材料，典型測量精度可達±(1%H+0.1)mm（H為實際厚度）。探頭支持多種測量模式，包括單點測量、連續測量和網格測量等，滿足不同檢測需求。針對特殊材料如鑄件或粗晶材料，探頭可通過調整增益等參數獲得可靠測量數據。溫度變化對測量結果的影響可通過溫度補償功能進行修正。41123
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