CY2772B 電感測(cè)試儀
CY2772B電感測(cè)試儀是一款面向電子元器件檢測(cè)與電路調(diào)試場(chǎng)景設(shè)計(jì)的高精度測(cè)量工具，適用于電感器、變壓器、線圈等磁性元件的參數(shù)分析。該設(shè)備采用智能化測(cè)量架構(gòu)，可快速獲取電感量、品質(zhì)因數(shù)（Q值）、直流電阻（DCR）等關(guān)鍵參數(shù)，為電子工程師、科研人員及電子設(shè)備維修人員提供可靠的測(cè)試支持。
在核心性能方面，設(shè)備搭載寬范圍測(cè)量系統(tǒng)，支持0.1μH至200H的電感測(cè)量范圍，覆蓋常見(jiàn)電子元件及工業(yè)器件的檢測(cè)需求。測(cè)量分辨率達(dá)到0.1nH級(jí)，配合自動(dòng)量程切換功能，有效保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。針對(duì)不同材質(zhì)的電感元件，提供多檔測(cè)試頻率選擇，確保測(cè)量條件更貼近實(shí)際工作環(huán)境。設(shè)備內(nèi)置溫度補(bǔ)償算法，可有效降低環(huán)境因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，保障長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試的穩(wěn)定性。
設(shè)備采用人性化交互設(shè)計(jì)，配備高清晰度液晶顯示屏，支持測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示與歷史記錄查詢功能。特殊設(shè)計(jì)的四端測(cè)試接口能有效消除接觸電阻干擾，配合可調(diào)節(jié)測(cè)試夾具，可適配不同封裝尺寸的元器件。為提升操作便利性，設(shè)備集成一鍵校準(zhǔn)功能，支持開(kāi)路/短路自動(dòng)補(bǔ)償，簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)測(cè)試前的復(fù)雜校準(zhǔn)流程。
在安全防護(hù)方面，設(shè)備內(nèi)置過(guò)壓保護(hù)電路與抗沖擊設(shè)計(jì)，可承受一定程度的誤操作電壓輸入。緊湊型機(jī)身結(jié)構(gòu)配合防滑底座設(shè)計(jì)，兼顧實(shí)驗(yàn)室與現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的使用場(chǎng)景。供電系統(tǒng)兼容交流適配器與直流電源兩種模式，滿足不同工作環(huán)境下的電力供應(yīng)需求。
該測(cè)試儀適用于電子元器件生產(chǎn)質(zhì)檢、電源電路調(diào)試、通信設(shè)備維護(hù)等多個(gè)領(lǐng)域，其測(cè)量數(shù)據(jù)可為電路設(shè)計(jì)優(yōu)化、故障元件排查提供有效參考。通過(guò)優(yōu)化測(cè)量算法與硬件架構(gòu)，設(shè)備在保證測(cè)試精度的同時(shí)，顯著縮短了測(cè)量響應(yīng)時(shí)間，提升批量檢測(cè)場(chǎng)景下的工作效率。
CY2772 CY2772B CY2772C CY2772D
CY2772E CY2772F CY2772G
測(cè)試參數(shù) L/Q
測(cè)試頻率
400Hz,1KHz 100Hz,1KHz 100Hz,1KHz,10KHz 1KHz,10KHz,20KHz 1KHz,10KHz,100KHz 100Hz,1KHz,10KHz 1KHz,10KHz,100KHz
測(cè)試電平 0.3Vrms 10mV-1V連續(xù)可調(diào) 0.3Vrms
測(cè)試精度
（基本量程內(nèi)） ±0.3（基本量程內(nèi)）
測(cè)試范圍
L：0.1uH9999H L：0.1uH9999H L：0.001uH999.9H
Q:0.00019999 Q:0.00019999 Q:0.00019999
L：0.01uH9999H L：0.001uH999.9H
Q:0.00019999 Q:0.00019999
測(cè)試速度 5次/秒
校準(zhǔn)功能 短路清“0”
顯示位數(shù) 主參數(shù)：5位，副參數(shù)：4位
分選功能 無(wú) Q不合格，上超，下超合格分選
接口 量程鎖定，可外接電感偏流源
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